光學(xué)防偽特征檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610290777.5 申請日 -
公開（公告）號 CN107346578A 公開（公告）日 2017-11-14
申請公布號 CN107346578A 申請公布日 2017-11-14
分類號 G07D7/128(2016.01)I;G07D7/121(2016.01)I 分類 核算裝置;
發(fā)明人 鮑東山;陳新;萬成凱;唐輝 申請（專利權(quán)）人 北京新岸線數(shù)字圖像技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100084 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路1號院清華科技園科技大廈A座16層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光學(xué)防偽特征檢測方法，包括：一種光學(xué)防偽特征的檢測方法，包括：照射被檢測物上的防偽圖案所在區(qū)域；分別從兩個不同的角度接收所述預(yù)定區(qū)域的反射光、并得到所述防偽圖案所在區(qū)域的第一圖像和第二圖像；比較所述第一圖像和所述第二圖像，以檢測所述防偽圖案是否具有光學(xué)防偽特征。本發(fā)明提供的光學(xué)防偽特征檢測方法及裝置檢測識別率高、性能穩(wěn)定可靠。