平板探測器及其輻射成像系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201821209119.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN208537452U | 公開(公告)日 | 2019-02-22 |
申請公布號 | CN208537452U | 申請公布日 | 2019-02-22 |
分類號 | G01N23/04;H01L27/146 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 崔志立;羅杰;李運祥 | 申請(專利權(quán))人 | 成都善思微科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 北京納米維景科技有限公司;成都善思微科技有限公司 |
地址 | 100094 北京市海淀區(qū)北清路68號院用友產(chǎn)業(yè)園西區(qū)1號樓一層1-06 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種平板探測器,同時也公開了包括該平板探測器的輻射成像系統(tǒng)。該平板探測器包括閃爍體、CMOS圖像傳感器、信號處理模塊;其中,閃爍體接收輻射源產(chǎn)生的X射線,轉(zhuǎn)換為可見光;可見光由CMOS圖像傳感器轉(zhuǎn)換為電信號,信號處理模塊采集電信號并進行圖像信號處理。本實用新型所提供的平板探測器及其輻射成像系統(tǒng)采用CMOS工藝實現(xiàn),具有所需X射線劑量低、數(shù)據(jù)動態(tài)范圍大、幀速率快及空間分辨率高等諸多優(yōu)點,可以應用在醫(yī)療影像、工業(yè)無損檢測等領(lǐng)域。 |
