一種光子計數(shù)探測器陣列及其成像方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510543632.7 申請日 -
公開（公告）號 CN106483548B 公開（公告）日 2019-07-26
申請公布號 CN106483548B 申請公布日 2019-07-26
分類號 G01T1/16（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 羅杰; 康小維; 崔志立; 李運祥; 曹紅光 申請（專利權(quán)）人 成都善思微科技有限公司
代理機構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 北京納米維景科技有限公司;成都善思微科技有限公司
地址 100094 北京市海淀區(qū)永澄北路2號院1號樓A座303
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種光子計數(shù)探測器陣列及其成像方法。其中，光子計數(shù)探測器陣列包括多個探測器模組，每個探測器模組由兩個或多個光子計數(shù)探測器單元組成；多個探測器模組在一個平面內(nèi)排列成一個探測器矩陣；其中，在探測器矩陣中，多個光子計數(shù)探測器單元在每列等間距排列并在相鄰兩列錯位排列；或者，多個光子計數(shù)探測器單元在每行等間距排列并在相鄰兩行錯位排列。通過平移或旋轉(zhuǎn)上述光子計數(shù)探測器陣列，獲得兩幅錯開互補的網(wǎng)狀圖像；然后將兩幅網(wǎng)狀圖像拼接，可以獲得有效成像區(qū)域的平面無縫拼接圖像。本發(fā)明基于三面可拼接光子計數(shù)探測器單元形成用于獲取平面無縫拼接圖像的光子計數(shù)探測器陣列，簡化了系統(tǒng)設計復雜度，并減小了系統(tǒng)成本。