一種雙相鈦合金相比例的快速分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010223968.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113447506A 公開（公告）日 2021-09-28
申請公布號 CN113447506A 申請公布日 2021-09-28
分類號 G01N23/207（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王書明;張華 申請（專利權(quán)）人 國標(biāo)（北京）檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京北新智誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉徐紅
地址 101407北京市懷柔區(qū)雁棲經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)興科東大街11號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種雙相鈦合金相比例的快速分析方法，屬于XRD定量相分析技術(shù)領(lǐng)域。首先清潔樣品；采用裝備有二維探測器的便攜式測量裝置，將X射線入射線與樣品表面夾角設(shè)為45°以上，工作距離調(diào)整到15～50mm；調(diào)整光斑位置至待測點(diǎn)，并在裝置中鍵入工作距離；開啟高壓及射線窗口，測量并收集α相和β相德拜環(huán)；根據(jù)α相{hkl}和β相{nmp}德拜環(huán)的2θ角及晶面間距，分辨并指標(biāo)化各德拜環(huán)；解析衍射數(shù)據(jù)，去除背景，將對應(yīng)德拜環(huán)分別進(jìn)行強(qiáng)度積分；計算出α和β的比例。本發(fā)明無需破壞，特別適用于大型工件，成品件的測量，可在一定程度上減弱織構(gòu)和晶粒粗大對相含量計算的干擾。