一種采用分光光度法測定氮化硼中硅含量的分析測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110302456.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113155759A 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN113155759A 申請公布日 2021-07-23
分類號 G01N21/31;G01N21/01 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李濤;張力久;栗生辰;陳彩霞;鄧楠;李甜;胡夢橋;紀(jì)博舒;李娜 申請（專利權(quán)）人 國標(biāo)（北京）檢驗認(rèn)證有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京北新智誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉徐紅
地址 101400 北京市懷柔區(qū)雁棲經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)興科東大街11號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種采用分光光度法測定氮化硼中硅含量的分析測試方法，屬于氮化硼化學(xué)分析技術(shù)領(lǐng)域。氮化硼樣品溶解后產(chǎn)品中的硅轉(zhuǎn)變?yōu)榭扇苄怨杷?，在酸性溶液中可溶性硅酸與顯色劑反應(yīng)，生成多元雜多酸含硅體系。用還原劑將多元雜多酸含硅體系進(jìn)行還原，所得產(chǎn)物吸光度在一定濃度范圍內(nèi)與多元雜多酸含硅體系含量呈正比，即可用分光光度計測量其吸光度，進(jìn)而于工作曲線上計算出硅含量。本發(fā)明主要解決了氮化硼中硅含量測定問題，具有靈敏度高、選擇性好、準(zhǔn)確度高、適用濃度范圍廣、分析成本低、操作簡便快速的優(yōu)點，可以作為氮化硼中硅含量分析測試的常規(guī)方法。