一種MOSFET短路檢測(cè)電路

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202023197949.5 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN214041700U 公開(公告)日 2021-08-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN214041700U 申請(qǐng)公布日 2021-08-24
分類號(hào) G01R31/52(2020.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 張作勤;肖銀偉;鐘峰 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳市朗科智能電氣股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市精英專利事務(wù)所 代理人 蔣學(xué)超
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道上排社區(qū)愛群路同富裕工業(yè)區(qū)8-4#廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種MOSFET短路檢測(cè)電路,包括MOSFET、MOSFET檢測(cè)電路、單片機(jī)MCU、電池管理芯片、穩(wěn)壓控制電路、保險(xiǎn)絲以及負(fù)載;穩(wěn)壓控制電路用于為電池管理芯片提供電壓,電池管理芯片用于采集每節(jié)電池的電壓、電流以及溫度數(shù)據(jù),并傳送至單片機(jī)MCU,MOSFET檢測(cè)電路用于檢測(cè)MOSFET是否短路,并將短路信號(hào)發(fā)送至單片機(jī)MCU,單片機(jī)MCU用于控制充放電MOSFET,以及在MOSFET發(fā)生短路時(shí)控制保險(xiǎn)絲熔斷,切斷負(fù)載電流。本實(shí)用新型通過MOSFET檢測(cè)電路可以實(shí)時(shí)檢測(cè)MOSFET是否短路,當(dāng)MOSFET短路時(shí)MOSFET檢測(cè)電路會(huì)輸出一個(gè)短路信號(hào)給到MCU單片機(jī),MCU單片機(jī)會(huì)去檢測(cè)放電異常電流,再熔斷保險(xiǎn)絲,切斷負(fù)載電流,以保障電池和系統(tǒng)安全。