一種用于半導(dǎo)體分立器件的綜合老化試驗(yàn)箱
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011073978.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112379237A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112379237A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-02-19 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/26(2014.01)I; | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 謝斌;史建軍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 安徽晶谷周界微電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 合肥廣源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 汪綱 |
| 地址 | 233000安徽省蚌埠市財(cái)院路10號(hào)106號(hào)樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及分立器件老化試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于半導(dǎo)體分立器件的綜合老化試驗(yàn)箱，包括試驗(yàn)箱底臺(tái)，試驗(yàn)箱底臺(tái)的底端面通過(guò)螺栓固定有若干個(gè)可調(diào)腳，試驗(yàn)箱底臺(tái)的上端固定有老化試驗(yàn)箱本體，老化試驗(yàn)箱本體包括上箱體和下箱體，上箱體的內(nèi)部設(shè)有控制室及兩個(gè)第一腔體，控制室的內(nèi)部安裝有控制箱，且其前端安裝有固定門(mén)板，固定門(mén)板的正面設(shè)置有顯示屏、工作狀態(tài)指示區(qū)及控制按鍵區(qū)，兩個(gè)第一腔體的前端均通過(guò)鉸鏈安裝有上密封門(mén)；下箱體的內(nèi)部開(kāi)設(shè)有兩個(gè)第二腔體，且兩個(gè)第二腔體的前端均通過(guò)鉸鏈安裝有下密封門(mén)；本發(fā)明可帶動(dòng)老化座做順時(shí)針及逆時(shí)針往復(fù)轉(zhuǎn)動(dòng)，從而使得半導(dǎo)體分立器件受熱更加均勻，得到的老化試驗(yàn)數(shù)據(jù)也更加精確。?? |
