一種用于低功率分立器件的綜合老化試驗(yàn)箱

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011107887.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112379239A 公開（公告）日 2021-02-19
申請公布號 CN112379239A 申請公布日 2021-02-19
分類號 G01R31/26;G01R1/04;H05K7/20;H05K5/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 謝斌;史建軍 申請（專利權(quán)）人 安徽晶谷周界微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥廣源知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 汪綱
地址 233000 安徽省蚌埠市財(cái)院路10號106號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及分立器件老化試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于低功率分立器件的綜合老化試驗(yàn)箱，包括試驗(yàn)箱底臺，試驗(yàn)箱底臺的底端面通過螺栓固定有若干個(gè)可調(diào)腳，試驗(yàn)箱底臺的上端固定有老化試驗(yàn)箱本體，老化試驗(yàn)箱本體包括上箱體和下箱體，上箱體的內(nèi)部設(shè)有控制室及兩個(gè)第一腔體，控制室的內(nèi)部安裝有控制箱，且其前端安裝有固定門板，固定門板的正面設(shè)置有顯示屏、工作狀態(tài)指示區(qū)及控制按鍵區(qū)，兩個(gè)第一腔體的前端均通過鉸鏈安裝有上密封門；下箱體的內(nèi)部開設(shè)有兩個(gè)第二腔體，且兩個(gè)第二腔體的前端均通過鉸鏈安裝有下密封門；本發(fā)明可帶動(dòng)老化座做順時(shí)針及逆時(shí)針往復(fù)轉(zhuǎn)動(dòng)，從而使得低功率分立器件受熱更加均勻，得到的老化試驗(yàn)數(shù)據(jù)也更加精確。