商標進度
商標申請
2019-09-18
初審公告
2020-02-13
已注冊
2020-05-12
4
終止
2030-05-13
商標詳情
| 商標 |
H
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| 商標名稱 | HISUN-TEST | 商標狀態(tài) | 商標已注冊 |
| 申請日期 | 2019-09-18 | 申請/注冊號 | 41125169 |
| 國際分類 | 09類-科學(xué)儀器 | 是否共有商標 | 否 |
| 申請人名稱（中文） | 和創(chuàng)聯(lián)合科技（北京）有限公司 | 申請人名稱（英文） | - |
| 申請人地址（中文） | 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路18號13層A-1612 | 申請人地址（英文） | - |
| 商標類型 | - | 商標形式 | - |
| 初審公告期號 | 1683 | 初審公告日期 | 2020-02-13 |
| 注冊公告期號 | 41125169 | 注冊公告日期 | 2020-05-12 |
| 優(yōu)先權(quán)日期 | - | 代理/辦理機構(gòu) | 北京睿智保誠國際知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 |
| 國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
| 專用權(quán)期限 | 2020-05-14-2030-05-13 | ||
| 商標公告 | - | ||
| 商品/服務(wù) |
半導(dǎo)體測試設(shè)備(0910)
測量儀器(0910)
測量裝置(0910)
電測量儀器(0910)
電路測試儀(0910)
電阻測量儀器(0910)
干涉儀(0911)
工具測量儀器(0910)
計量儀表(0910)
計數(shù)器(0902)
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| 商標流程 | - | ||
