PCB板臟污缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210149532.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114202543A 公開（公告）日 2022-03-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN114202543A 申請(qǐng)公布日 2022-03-18
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06V10/26（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06V10/774（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 成都數(shù)之聯(lián)科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 王志
地址 610000四川省成都市武侯區(qū)錦繡街8號(hào)2層270號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)的實(shí)施例提供一種PCB板臟污缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)，該方法包括：利用已訓(xùn)練的分割模型對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行分割，獲得目標(biāo)圖像；其中，所述目標(biāo)圖像中包括目標(biāo)缺陷的mask覆蓋區(qū)域，所述待檢測(cè)圖像為對(duì)待檢測(cè)PCB板采集的圖像；將所述mask覆蓋區(qū)域映射到所述待檢測(cè)圖像中，獲得待檢測(cè)標(biāo)注圖像；對(duì)所述待檢測(cè)標(biāo)注圖像和所述目標(biāo)圖像分別進(jìn)行圖像處理，獲得待檢測(cè)黑白圖像和目標(biāo)黑白圖像；分別統(tǒng)計(jì)所述待檢測(cè)黑白圖像中的連通區(qū)域個(gè)數(shù)m和所述目標(biāo)黑白圖像中的連通區(qū)域個(gè)數(shù)k；根據(jù)m與k的大小關(guān)系，判定所述待檢測(cè)PCB板是否存在臟污缺陷。對(duì)臟污缺陷的檢測(cè)效率和和準(zhǔn)確性顯著提高。