焦平面探測(cè)器芯片集成像素級(jí)透鏡的封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110190749.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN112820781A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-05-18 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112820781A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-18 |
分類號(hào) | H01L31/0203;H01L31/0232;H01L25/04;H01L31/18 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 黃寓洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 蘇州蘇納光電有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京利豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 王鋒 |
地址 | 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)星湖街218號(hào)生物納米園A4樓109C單元 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種焦平面探測(cè)器芯片集成像素級(jí)透鏡的封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法。所述封裝結(jié)構(gòu)包括相互配合的封裝蓋帽與封裝底座,所述封裝蓋帽包括一體成型的封裝蓋帽本體、復(fù)數(shù)個(gè)透鏡以及內(nèi)凹腔;所述復(fù)數(shù)個(gè)透鏡陣列排布;所述內(nèi)凹腔用于密封封裝復(fù)數(shù)個(gè)焦平面探測(cè)器芯片;所述復(fù)數(shù)個(gè)焦平面探測(cè)器芯片均設(shè)置于所述封裝底座上,同時(shí),與一焦平面探測(cè)器芯片配合的一透鏡的焦點(diǎn)分布在該焦平面探測(cè)器芯片的受光面上。本發(fā)明提供的封裝結(jié)構(gòu)體積大大減?。煌瑫r(shí)可將透鏡范圍內(nèi)的光線有效匯聚和收集,增強(qiáng)信號(hào),減少噪聲,有效提高了系統(tǒng)性能。 |
