一種芯片封裝方法和芯片封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110327890.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113078069B | 公開(公告)日 | 2022-07-19 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113078069B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-19 |
分類號(hào) | H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 謝俊;曹立強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京三聚陽光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 214000江蘇省無錫市新吳區(qū)太湖國際科技園菱湖大道200號(hào)中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園D1棟 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種芯片封裝方法和芯片封裝結(jié)構(gòu),芯片封裝方法包括:提供轉(zhuǎn)接板;在所述轉(zhuǎn)接板的一側(cè)設(shè)置芯片;在所述轉(zhuǎn)接板的一側(cè)形成覆蓋所述芯片的側(cè)壁的第一塑封層;在所述第一塑封層背向所述轉(zhuǎn)接板的一側(cè)表面鍵合載片;在所述載片背向所述第一塑封層的一側(cè)表面形成第二塑封層,所述載片的熱膨脹系數(shù)分別小于所述第二塑封層的熱膨脹系數(shù)和第一塑封層的熱膨脹系數(shù);形成所述第二塑封層之后,減薄所述轉(zhuǎn)接板背向所述第一塑封層一側(cè)的表面。所述芯片封裝方法能夠有效的降低翹曲。 |
