檢測識別圖像中的顆粒污染物的方法及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110503176.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113139953A 公開（公告）日 2021-07-20
申請公布號 CN113139953A 申請公布日 2021-07-20
分類號 G06T7/00;G06T7/136;G06T5/00 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 毛磊;楊潔;張克奇;鄭馳;邱元芳;張琦 申請（專利權(quán)）人 寧波永新光學(xué)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 寧波誠源專利事務(wù)所有限公司 代理人 徐雪波;鄧青玲
地址 315040 浙江省寧波市科技園區(qū)明珠路385號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及檢測識別圖像中顆粒污染物的方法及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中的方法包括步驟S1、對原始圖像進(jìn)行分割掃描拍攝并合并成完整大圖，對完整大圖進(jìn)行灰度化處理得到圖像A；步驟S2、獲取圖像A的帶有光照不均勻的濾濾波背景圖像E；步驟S3、得到圖像A的顆粒污染物前景圖像H；步驟S4、對顆粒污染物前景圖像H進(jìn)行輪廓檢測，檢測并識別顆粒污染物前景圖像H中顆粒污染物。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：本發(fā)明將顆粒污染物作為噪點(diǎn)進(jìn)行濾波處理，得到帶有光照不均勻的濾波背景，再利用原始圖像與濾膜背景得到顆粒污染物前景圖像H，從而避免光照不均勻?qū)︻w粒污染物與濾膜背景的影響，使檢測準(zhǔn)確率得到很大的提升。