校驗矩陣的生成方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610984276.7 申請日 -
公開（公告）號 CN108063622B 公開（公告）日 2022-01-04
申請公布號 CN108063622B 申請公布日 2022-01-04
分類號 H03M13/11（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請（專利權(quán)）人 深圳光啟合眾科技有限公司
代理機構(gòu) 鹽城易動專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 王娟
地址 224000 江蘇省鹽城市鹽南高新區(qū)文港南路49號6幢203-2室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種校驗矩陣的生成方法和裝置。其中，該方法包括：初始化規(guī)則校驗矩陣，其中，規(guī)則校驗矩陣的每行按照相同度的分布；調(diào)整規(guī)則校驗矩陣的列的度，其中，調(diào)整后的規(guī)則校驗矩陣的行和列均滿足度的分布；檢驗規(guī)則校驗矩陣是否存在短環(huán)；在檢測出規(guī)則校驗矩陣存在短環(huán)的情況下，調(diào)整由短環(huán)引起的非零元素，并在調(diào)整后重復(fù)檢驗是否存在短環(huán)，直到規(guī)則校驗矩陣沒有短環(huán)；輸出規(guī)則校驗矩陣。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中LDPC校驗矩陣存在短環(huán)的技術(shù)問題。