一種抑制信號源抖動的ADC頻譜測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111507829.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114184839A 公開（公告）日 2022-03-15
申請公布號 CN114184839A 申請公布日 2022-03-15
分類號 G01R23/16（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 付江鐸;楊中;宋佳音;楊浩涵;陳文亞;黃一斌;樊曉華 申請（專利權）人 江蘇集萃智能集成電路設計技術研究所有限公司
代理機構 無錫市匯誠永信專利代理事務所（普通合伙） 代理人 郭慧
地址 214000江蘇省無錫市新吳區(qū)菱湖大道111號無錫軟件園天鵝座C座18樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種抑制信號源抖動的ADC頻譜測試方法，其無需大量復雜運算即可實現(xiàn)ADC高精度測試，可抑制信號源抖動，該方法包括：基波識別、基波替代兩部分，基波識別包括：采集ADC的輸出數(shù)據(jù)，對輸出數(shù)據(jù)進行分段化處理，計算出每段中輸出數(shù)據(jù)的初始相位，基于初始相位，得到輸出數(shù)據(jù)的幅度漂移量的估計值，并在每段中使用線性方程對幅度漂移量進行擬合，估計出帶漂移的基波分量；基波替代包括：重新構建一個幅度穩(wěn)定的基波成分，利用該基波對漂移的基波分量進行替換，獲取新的數(shù)據(jù)，并選擇合適的窗函數(shù)對新的數(shù)據(jù)進行加窗處理，對加窗處理后的新的數(shù)據(jù)進行頻譜分析，獲得待測ADC動態(tài)參數(shù)。