測試LED芯片參數(shù)的方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | 201910660037X | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112259644A | 公開（公告）日 | 2021-01-22 |
| 申請公布號 | CN112259644A | 申請公布日 | 2021-01-22 |
| 分類號 | H01L33/00(2010.01)I; | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 鄭軍;李琳琳;齊國健;閆寶華;王成新 | 申請（專利權(quán)）人 | 山東浪潮華光光電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 濟(jì)南誠智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 黃曉燕 |
| 地址 | 261061山東省濰坊市高新區(qū)金馬路9號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明實(shí)施例公開了測試LED芯片參數(shù)的方法，包括步驟：S1,對芯片進(jìn)行半切操作，形成測試點(diǎn)；S2,對芯片進(jìn)行參數(shù)測試，輸出芯片參數(shù)測試結(jié)果及各參數(shù)的Mapping圖；S3，全切，形成若干顆獨(dú)立的管芯；S4,擴(kuò)膜，使所述管芯之間產(chǎn)生間隙；S5，對應(yīng)Mapping圖，劃定參數(shù)范圍，并夾取劃定范圍內(nèi)的管芯，放置到銅板上；S6,對管芯逐一進(jìn)行扎測，輸出單顆管芯參數(shù)測試結(jié)果；S7，將芯片參數(shù)測試結(jié)果與管芯參數(shù)測試結(jié)果進(jìn)行對比，若兩測試結(jié)果符合差異率標(biāo)準(zhǔn)，測試通過。通過對全切后的管芯進(jìn)行扎測，將芯片測試參數(shù)與管芯扎測參數(shù)對比，提高了對芯片測試參數(shù)的準(zhǔn)確性監(jiān)控，保證了產(chǎn)品性能參數(shù)的準(zhǔn)確性，提升產(chǎn)品可靠性。?? |
