測試LED芯片參數(shù)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910660037.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112259644B 公開（公告）日 2022-02-08
申請公布號 CN112259644B 申請公布日 2022-02-08
分類號 H01L33/00（2010.01）I;H01L21/66（2006.01）I;H01L21/67（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 鄭軍;李琳琳;齊國健;閆寶華;王成新 申請（專利權(quán)）人 山東浪潮華光光電子股份有限公司
代理機構(gòu) 濟南誠智商標專利事務(wù)所有限公司 代理人 黃曉燕
地址 261061山東省濰坊市高新區(qū)金馬路9號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例公開了測試LED芯片參數(shù)的方法，包括步驟：S1,對芯片進行半切操作，形成測試點；S2,對芯片進行參數(shù)測試，輸出芯片參數(shù)測試結(jié)果及各參數(shù)的Mapping圖；S3，全切，形成若干顆獨立的管芯；S4,擴膜，使所述管芯之間產(chǎn)生間隙；S5，對應(yīng)Mapping圖，劃定參數(shù)范圍，并夾取劃定范圍內(nèi)的管芯，放置到銅板上；S6,對管芯逐一進行扎測，輸出單顆管芯參數(shù)測試結(jié)果；S7，將芯片參數(shù)測試結(jié)果與管芯參數(shù)測試結(jié)果進行對比，若兩測試結(jié)果符合差異率標準，測試通過。通過對全切后的管芯進行扎測，將芯片測試參數(shù)與管芯扎測參數(shù)對比，提高了對芯片測試參數(shù)的準確性監(jiān)控，保證了產(chǎn)品性能參數(shù)的準確性，提升產(chǎn)品可靠性。