一種基于BIM的建筑數(shù)據(jù)監(jiān)測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011593018.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112797960A 公開（公告）日 2021-05-14
申請公布號 CN112797960A 申請公布日 2021-05-14
分類號 G01C15/00;G01C11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳昆;尹宗洪;張婕妤;丁丁 申請（專利權(quán)）人 青島億聯(lián)建設(shè)集團股份有限公司
代理機構(gòu) 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 厲丹彤
地址 266400 山東省青島市黃島區(qū)山川路1860號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于BIM的建筑數(shù)據(jù)監(jiān)測裝置，涉及建筑監(jiān)測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，包括底座、監(jiān)測架、監(jiān)測頭、第一監(jiān)測環(huán)、第二監(jiān)測環(huán)和弧形片。本發(fā)明中根據(jù)第一支撐柱與第二支撐柱之間的距離、傾斜角度以及監(jiān)測頭的傾斜偏轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)判斷基坑內(nèi)部是否發(fā)生異常，對基坑的監(jiān)測范圍更廣，監(jiān)測數(shù)據(jù)更加全面，監(jiān)測準(zhǔn)確性更高，第一支撐柱與第二支撐柱上方的監(jiān)測頭偏轉(zhuǎn)方向相反，可有效放大監(jiān)測數(shù)據(jù)，使得裝置對基坑的監(jiān)測性能更佳，可避免監(jiān)測環(huán)與支撐環(huán)發(fā)生磨損，只需要對監(jiān)測頭的偏轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)進行監(jiān)測，即可實現(xiàn)對基坑的監(jiān)測處理，操作簡單便捷，監(jiān)測數(shù)據(jù)少，運算量小，設(shè)備損傷幾率小，安全性能高，可有效保證監(jiān)測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。