基于正弦條紋和多灰度級條紋投影的快速三維測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110179797.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113155056A 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN113155056A 申請公布日 2021-07-23
分類號 G01B11/25（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉哲;王偉;左飛飛;李曉蕓;王亞杰;吳宏新;張文宇 申請（專利權(quán)）人 北京朗視儀器股份有限公司
代理機構(gòu) 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 代理人 張乾楨
地址 100084北京市海淀區(qū)清華園清華同方大廈8層A8008B
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于正弦和多灰度級條紋投影的快速三維測量方法，包括如下步驟：步驟一、利用計算機生成多種條紋圖，具體包括三幅正弦相移條紋圖，以及一到多幅多灰度級條紋圖；步驟二、用投影儀將多幅條紋圖依次投影到被測物體表面，對每幅投影圖像用相機進行采集；步驟三、利用三幅正弦相移條紋圖求解出包裹相位；步驟四、對多灰度級圖像進行閾值分割計算相對條紋級次，可以利用直接照明分量和間接照明分量等算法計算合適閾值；步驟五、利用多灰度級圖像對相對條紋級次計算得到絕對條紋級次。然后進行相位解包裹獲得用于三維重建的絕對相位；步驟六、三維重建，進行相位?高度轉(zhuǎn)換，得到被測物體的三維高度數(shù)據(jù)。