半導(dǎo)體器件SEU翻轉(zhuǎn)概率的數(shù)值模擬方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510102446.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN104731638B 公開(kāi)（公告）日 2017-10-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN104731638B 申請(qǐng)公布日 2017-10-24
分類號(hào) G06F9/455(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 沈忱;貢頂;鄭麗桑;崔紹春 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州珂晶達(dá)電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 吳樹(shù)山
地址 215021 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道1355號(hào)二期C102-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體器件SEU翻轉(zhuǎn)概率的數(shù)值模擬方法，本發(fā)明通過(guò)SEU替代模型把SEU問(wèn)題中基本變量的維度高且離散問(wèn)題轉(zhuǎn)化為一維較連續(xù)的問(wèn)題，進(jìn)而在此基礎(chǔ)上使用改進(jìn)的MCMC子集抽樣方法模擬出SEU的小翻轉(zhuǎn)概率；且在子集抽樣方法的中間失效事件的閾值選擇上采用改進(jìn)的自適應(yīng)方法，減少中間失效事件的條件概率計(jì)算誤差，以利于能夠高效地得出半導(dǎo)體器件的SEU翻轉(zhuǎn)概率。本發(fā)明適用于半導(dǎo)體器件SEU數(shù)值模擬以及半導(dǎo)體器件小概率事件的數(shù)值模擬。