DDR信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法、測(cè)試裝置與測(cè)試設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111603654.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114283876A | 公開（公告）日 | 2022-04-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114283876A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-04-05 |
| 分類號(hào) | G11C29/56（2006.01）I | 分類 | 信息存儲(chǔ); |
| 發(fā)明人 | 鄧冏;蔣增城 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 山東岱微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 張?jiān)婪?/td> |
| 地址 | 250103山東省濟(jì)南市歷城區(qū)彩石街道商業(yè)街D區(qū)23號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环NDDR信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法、測(cè)試裝置與測(cè)試設(shè)備，該方法包括：獲取芯片在輕載工作模式下的DDR待測(cè)信號(hào)的de?skew值，將所述de?skew值作為所述DDR待測(cè)信號(hào)窗口掃描的初始中心值；控制所述de?skew值以所述初始中心值為中心變化，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口邊界值；根據(jù)所述窗口邊界值確定所述DDR待測(cè)信號(hào)的窗口大小。該方法調(diào)整DDR信號(hào)的de?skew值來確定de?skew值的最大值和最小值，從而得到DDR信號(hào)的窗口大小，DDR信號(hào)的窗口越大，DDR信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量越好，無需對(duì)信號(hào)線刮線、焊接等操作，簡(jiǎn)化了測(cè)試操作，解決現(xiàn)有技術(shù)中DDR信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法過于復(fù)雜的問題。 |
