DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111603654.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114283876A 公開（公告）日 2022-04-05
申請公布號 CN114283876A 申請公布日 2022-04-05
分類號 G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 鄧冏;蔣增城 申請（專利權(quán)）人 山東岱微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 張?jiān)婪?/td>
地址 250103山東省濟(jì)南市歷城區(qū)彩石街道商業(yè)街D區(qū)23號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环NDDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設(shè)備，該方法包括：獲取芯片在輕載工作模式下的DDR待測信號的de?skew值，將所述de?skew值作為所述DDR待測信號窗口掃描的初始中心值；控制所述de?skew值以所述初始中心值為中心變化，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口邊界值；根據(jù)所述窗口邊界值確定所述DDR待測信號的窗口大小。該方法調(diào)整DDR信號的de?skew值來確定de?skew值的最大值和最小值，從而得到DDR信號的窗口大小，DDR信號的窗口越大，DDR信號的信號質(zhì)量越好，無需對信號線刮線、焊接等操作，簡化了測試操作，解決現(xiàn)有技術(shù)中DDR信號質(zhì)量測試方法過于復(fù)雜的問題。