氣體檢測(cè)裝置和方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110640064.8 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113203790A | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113203790A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-03 |
分類號(hào) | G01N27/66 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 謝雷;沈飛宙;翟志斌;江濱清;金振華;郭世英;唐宣東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 盛密科技(上海)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 鐘揚(yáng)飛 |
地址 | 201800 上海市嘉定區(qū)嘉定工業(yè)區(qū)城北路1355號(hào)1幢801、802、804室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種氣體檢測(cè)裝置和方法,本申請(qǐng)的氣體檢測(cè)裝置包括:發(fā)光組件、電離室、測(cè)量室、第一檢測(cè)組件和第二檢測(cè)組件,電離室被配置為能使發(fā)光組件所發(fā)射的光線射入電離腔體內(nèi),以使電離腔體內(nèi)的待測(cè)氣體發(fā)生離子化;測(cè)量室具有出口孔道,出口孔道和電離腔體相通,以使離子化后的待測(cè)氣體流出;第一檢測(cè)組件包括收集電極和偏置電極;第二檢測(cè)組件包括第一電極、第二電極和第三電極。故本申請(qǐng)具有選擇性,通過(guò)第二檢測(cè)組件控制待測(cè)氣體的流量,并利用第一檢測(cè)組件和第二檢測(cè)組件對(duì)待測(cè)氣體中不同組分的響應(yīng)靈敏度不同來(lái)測(cè)量待測(cè)氣體中不同組分的含量,有針對(duì)性地對(duì)待測(cè)氣體進(jìn)行測(cè)量,提高了對(duì)待測(cè)氣體測(cè)量的準(zhǔn)確性。 |
