一種輻射探測測量和成像方法及變結構PET設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610374975.X 申請日 -
公開（公告）號 CN106094005B 公開（公告）日 2020-03-20
申請公布號 CN106094005B 申請公布日 2020-03-20
分類號 G01T1/29;A61B6/03 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄭睿;謝慶國;肖鵬;張博 申請（專利權）人 合肥銳世數(shù)字科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 430074 湖北省武漢市東湖開發(fā)區(qū)高新大道666號武漢國家生物產業(yè)基地項目B、C、D區(qū)研發(fā)樓B1棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種輻射探測測量和成像方法及實現(xiàn)該方法的變結構PET設備，該方法包括以下步驟：(1)確定待測量和成像區(qū)域的空間位置；(2)調節(jié)至少一個探測器的角度，使得所述調節(jié)后的探測器中軸穿過所述待測量和成像區(qū)域；(3)進行測量或者成像，所述進行測量或者成像的探測器包括部分或全部調節(jié)后的探測器。通過調節(jié)PET設備中探測器在固定機架內旋轉角度，使得至少一個探測器的中軸匯集于待測量和成像區(qū)域中，從而該區(qū)域發(fā)射的成對伽馬射線可以盡量垂直的入射進入對應探測器的晶體，盡量消除“深度效應”所帶來的空間分辨率的損失，提高系統(tǒng)在待測量和成像區(qū)域的空間分辨率。