用于提取集成電路器件的器件模型參數(shù)的方法和裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110614168.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113221489A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-08-06 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113221489A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-06 |
| 分類號(hào) | G06F30/3308 | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 劉志宏;梁漢成;石凱;馬玉濤 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海概倫電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京市君合律師事務(wù)所 | 代理人 | 毛健;顧云峰 |
| 地址 | 201306 上海市浦東新區(qū)臨港新片區(qū)環(huán)湖西二路888號(hào)C樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種用于提取集成電路器件的器件模型參數(shù)的方法，包括：提供針對(duì)所述集成電路器件的測(cè)試數(shù)據(jù)集；提供提取條件設(shè)置界面，所述提取條件設(shè)置界面包括多個(gè)提取條件域，其中每個(gè)提取條件域?qū)?yīng)于一個(gè)測(cè)試條件；接收用戶輸入，所述用戶輸入用于對(duì)所述提取條件設(shè)置界面的多個(gè)提取條件域中的至少一個(gè)提取條件域進(jìn)行設(shè)置或選擇提取條件變量；至少基于所述用戶輸入設(shè)置或選擇的提取條件變量生成一個(gè)提取條件模板，并且利用所述提取條件模板從所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中篩選對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)以生成自定義測(cè)試數(shù)據(jù)集；以及用所述自定義測(cè)試數(shù)據(jù)集對(duì)所述集成電路器件的器件模型進(jìn)行擬合，以生成所述集成電路器件的器件模型參數(shù)。 |
