一種檢測磁場質(zhì)量的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711105676.7 申請日 -
公開（公告）號 CN109782194A 公開（公告）日 2021-06-04
申請公布號 CN109782194A 申請公布日 2021-06-04
分類號 G01R33/02;G01C21/20 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李雋穎 申請（專利權(quán)）人 高德信息技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京領(lǐng)科知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張丹
地址 100080 北京市海淀區(qū)蘇州街3號16層2號房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種檢測磁場質(zhì)量的方法及裝置，該方法包括：定期分別獲得電子設(shè)備的第一歐拉角和第二歐拉角；獲得第一歐拉角在水平方向上的第一分量，獲得對應(yīng)的第二歐拉角在水平方向上的第二分量；計算第一分量和對應(yīng)的第二分量的差值，并計算設(shè)定時間內(nèi)的多項所述差值的方差值；判斷所述方差值是否大于預(yù)設(shè)門限值，若大于，確認所述電子設(shè)備所處的磁場不穩(wěn)定。可見，本發(fā)明方案實現(xiàn)了對磁場質(zhì)量的檢測。