含有增強元胞設計的功率MOSFET器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011060377.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112234095A | 公開(公告)日 | 2021-01-15 |
申請公布號 | CN112234095A | 申請公布日 | 2021-01-15 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 任娜 | 申請(專利權)人 | 濟南星火技術發(fā)展有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京君慧知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 濟南星火技術發(fā)展有限公司 |
地址 | 250118山東省濟南市槐蔭區(qū)美里湖美里路中段 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了含有增強元胞設計的功率MOSFET器件,用以解決如何在不改變器件工藝流程和成本,以及不犧牲較多其他性能的條件下,降低柵極氧化物中的電場強度的技術問題。本申請中的功率MOSFET器件包括:具有第一導電類型的外延層;若干個具有第二導電類型的第一區(qū)域,均勻分布于外延層的上表面,且各第一區(qū)域分別與外延層形成第一PN結(jié);若干個具有第二導電類型的中央注入結(jié)構(gòu),均勻分布于JFET區(qū)域內(nèi);JFET區(qū)域由任意兩個相鄰的第一區(qū)域之間的空隙構(gòu)成;其中,若干個中央注入結(jié)構(gòu)為圓形或者正多邊形。本申請通過中央注入結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了電場屏蔽,進而降低了柵極氧化物中的電場強度,提高了器件的可靠性。?? |
