時(shí)鐘測(cè)試方法、裝置、量產(chǎn)測(cè)試方法及測(cè)試平臺(tái)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110267015.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113156799A 公開（公告）日 2021-07-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN113156799A 申請(qǐng)公布日 2021-07-23
分類號(hào) G04D7/00 分類 測(cè)時(shí)學(xué);
發(fā)明人 周文浩;陳曉飛;劉偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 宏晶微電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 彭瑞欣;馮建基
地址 230088 安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號(hào)動(dòng)漫基地B1樓9層北
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種時(shí)鐘測(cè)試方法、裝置、量產(chǎn)測(cè)試方法及測(cè)試平臺(tái)。該時(shí)鐘測(cè)試方法包括基于待測(cè)芯片產(chǎn)生的待測(cè)時(shí)鐘獲取時(shí)鐘窗口，其中，時(shí)鐘窗口的大小是預(yù)先設(shè)定的；利用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘對(duì)時(shí)鐘窗口進(jìn)行計(jì)數(shù)，獲得累積時(shí)鐘計(jì)數(shù)；其中，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘的頻率大于待測(cè)時(shí)鐘的頻率；計(jì)算累積時(shí)鐘計(jì)數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘計(jì)數(shù)的差值，獲得累積時(shí)鐘差值，比較累積時(shí)鐘差值和預(yù)設(shè)的時(shí)鐘閾值，并基于比較結(jié)果確定待測(cè)芯片的測(cè)試結(jié)果。該時(shí)鐘測(cè)試方法可提高測(cè)試效率，減少誤判，而且，可以大大降低成本。