絕緣子污穢測量測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110867229.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113567816A 公開（公告）日 2021-10-29
申請公布號 CN113567816A 申請公布日 2021-10-29
分類號 G01R31/12（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王遠(yuǎn)東;張志勁;陳遠(yuǎn)東;蔣興良;史文江;喬新涵;張海龍;趙振東;陳晶 申請（專利權(quán)）人 國網(wǎng)內(nèi)蒙古東部電力有限公司檢修分公司
代理機(jī)構(gòu) 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 胡博文
地址 100031北京市西城區(qū)西長安街86號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的一種絕緣子污穢測量測量方法，包括以下步驟：在待測目標(biāo)絕緣子所在輸電線路設(shè)置參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子，并測量參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子的表面灰密值；采集待測目標(biāo)絕緣子所處環(huán)境的環(huán)境參數(shù)，確定顆粒物濃度與粒徑關(guān)系；采用Comsol仿真軟件對待測目標(biāo)絕緣子和參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子的表面形狀建立有限元仿真模型，并將顆粒物濃度與粒徑關(guān)系輸入到有限元仿真模型中確定出污穢顆粒物總數(shù)目NDi,根據(jù)污穢顆粒物總數(shù)目計算待測目標(biāo)絕緣子的表面灰密值和參考標(biāo)準(zhǔn)絕緣子的表面灰密值，并確定出待測目標(biāo)絕緣子的積污系數(shù)k，確定目標(biāo)絕緣子最終表面灰密值NSDDmubiao，能夠?qū)旊娋€路的待測絕緣子的積污度進(jìn)行準(zhǔn)確測量。