處理測試數(shù)據(jù)的方法、裝置、設備及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110730709.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113449422A 公開（公告）日 2021-09-28
申請公布號 CN113449422A 申請公布日 2021-09-28
分類號 G06F30/20（2020.01）I;G06F111/08（2020.01）N;G06F111/10（2020.01）N 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 曾健忠 申請（專利權）人 深圳天狼芯半導體有限公司
代理機構 深圳中一聯(lián)合知識產權代理有限公司 代理人 楊志強
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)車公廟金潤大廈18E
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于數(shù)據(jù)處理技術領域，提供了處理測試數(shù)據(jù)的方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括：獲取多個原始測試數(shù)據(jù)；確定多個原始測試數(shù)據(jù)對應的第一目標數(shù)值和第一標準差；確定多個第一數(shù)值；確定多個第二數(shù)值；當檢測到第一數(shù)據(jù)集合中的數(shù)據(jù)的數(shù)量超過預設閾值時，基于第一數(shù)據(jù)集合進行良率測試。上述方案中，由于模擬出的測試數(shù)據(jù)是基于對原始測試數(shù)據(jù)、第一目標數(shù)值以及第一標準差確定的，相較于普通的自助抽樣法，本方案中對每個原始測試數(shù)據(jù)進行了數(shù)值調整，使最終模擬出的測試數(shù)據(jù)近似正態(tài)分布，進而基于第一數(shù)據(jù)集合進行良率測試時，提升了良率測試的準確性。