一種檢測方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110668651.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113448599A 公開（公告）日 2021-09-28
申請公布號 CN113448599A 申請公布日 2021-09-28
分類號 G06F8/61（2018.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 曾健忠 申請（專利權(quán)）人 深圳天狼芯半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉永康
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)車公廟金潤大廈18E
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于集成電路技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種檢測方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)，方法用于檢測晶粒，晶粒用于集成電路的設(shè)計中，晶粒為多位元的存儲結(jié)構(gòu)，位元對應(yīng)的存儲結(jié)構(gòu)中包括用于重復(fù)燒錄的目標(biāo)器件，目標(biāo)器件為熔絲或反熔絲；對晶粒中位元對應(yīng)的目標(biāo)器件進行N次燒錄；獲取進行N次燒錄后的燒錄結(jié)果；將所述燒錄結(jié)果輸入至已訓(xùn)練的類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型中進行檢測，得到檢測結(jié)果，所述類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型用于檢測所述晶粒是否合格。由于可根據(jù)N次燒錄結(jié)果，通過已訓(xùn)練的類神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型檢測晶粒是否合格，得到檢測結(jié)果，無需將所有位元中的目標(biāo)器件燒斷后再判定晶粒為合格晶粒，從而可節(jié)約檢測時間，提高了檢測效率。