一種多體制復(fù)合雷達(dá)高精度聯(lián)合測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111531107.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114200417A 公開（公告）日 2022-03-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN114200417A 申請(qǐng)公布日 2022-03-18
分類號(hào) G01S7/40（2006.01）I;G01S7/497（2006.01）I;H04N17/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 江利中;楊明遠(yuǎn);高林星;譚姍姍;顧澤凌;鄒波 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海無線電設(shè)備研究所
代理機(jī)構(gòu) 上海元好知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 林楊;徐雯瓊
地址 200233上海市閔行區(qū)中春路1555號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種多體制復(fù)合雷達(dá)高精度聯(lián)合測(cè)試系統(tǒng)，包括：多體制目標(biāo)模擬裝置，產(chǎn)生并向發(fā)射方向發(fā)射模擬目標(biāo)信號(hào)；五維轉(zhuǎn)臺(tái)，承載多體制復(fù)合雷達(dá)，并可以調(diào)整多體制復(fù)合雷達(dá)的位置、角度。本發(fā)明還提供一種多體制復(fù)合雷達(dá)高精度聯(lián)合測(cè)試方法，包含步驟：S1、搭建測(cè)試環(huán)境；S2、粗對(duì)準(zhǔn)；S3、精對(duì)準(zhǔn)；S4、高精度對(duì)準(zhǔn)；S5、實(shí)施高精度聯(lián)合測(cè)試。本發(fā)明可以提供可見光、激光和微波模擬目標(biāo)信號(hào)，能夠同時(shí)為光學(xué)相機(jī)、激光雷達(dá)和微波雷達(dá)測(cè)試使用，實(shí)現(xiàn)對(duì)多體制復(fù)合雷達(dá)的高精度聯(lián)合測(cè)試，具有試驗(yàn)效率高、測(cè)試過程簡單、試驗(yàn)精度高等優(yōu)點(diǎn)，并具有較強(qiáng)的普適性和實(shí)用性。