一種光電耦合器測試座及測試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202022940999.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN214374878U 公開（公告）日 2021-10-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN214374878U 申請(qǐng)公布日 2021-10-08
分類號(hào) G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張廣添;吳質(zhì)樸;何畏 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市奧倫德元器件有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 黃英杰
地址 518100廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣路天安數(shù)碼創(chuàng)業(yè)園1號(hào)廠房B座3樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種光電耦合器測試座及測試裝置，所述光電耦合器測試座包括：底座，設(shè)置有導(dǎo)軌；基座組件，包括第一基座、第二基座和第三基座，所述第一基座和所述第三基座滑動(dòng)設(shè)置在所述導(dǎo)軌上；接口組件，包括第一測試片、第二測試片、第三測試片、第四測試片、第五測試片和第六測試片。通過滑動(dòng)第一基座，使第一基座與第二基座之間的間距與光電耦合器的引腳之間的間距相等，通過滑動(dòng)第三基座，使第三基座與第二基座之間的間距與光電耦合器的引腳之間的間距相等；接口組件能夠連接4腳光電耦合器、5腳光電耦合器和6腳光電耦合器；能夠測試不同種類的光電耦合器，相對(duì)于定制對(duì)應(yīng)的測試座來測試不同種類的光電耦合器，能夠降低成本。