一種帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022941639.3 申請日 -
公開（公告）號 CN214375118U 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN214375118U 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張廣添;黃寶瑩;吳質(zhì)樸;何畏 申請（專利權(quán)）人 深圳市奧倫德元器件有限公司
代理機構(gòu) 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 梁國平
地址 518100廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣路天安數(shù)碼創(chuàng)業(yè)園1號廠房B座3樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置，包括：底座；測試單元，測試單元安裝在底座上，測試單元包括第一測試單元和第二測試單元；第一測試單元包括第一測試片、第二測試片、第三測試片和第一夾持區(qū)；第二測試單元包括第四測試片、第五測試片、第六測試片和第二夾持區(qū)。在測試時，帶回路測試功能的光耦高壓測試裝置的第一測試片、第二測試片和第三測試片共同卡設(shè)固定光耦的一只輸入引腳，第四測試片、第五測試片和第六測試片共同卡設(shè)固定光耦的另一只輸入引腳，從而實現(xiàn)測試單元能緊緊扣住光耦芯片的技術(shù)效果。