半導(dǎo)體器件的制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010174821.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113394163A | 公開(公告)日 | 2021-09-14 |
申請公布號 | CN113394163A | 申請公布日 | 2021-09-14 |
分類號 | H01L21/768(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 許毅勝;羅嘯;熊濤 | 申請(專利權(quán))人 | 上海格易電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蔡純;馮麗欣 |
地址 | 201203上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)郭守敬路498號1幢502/15、502/17、502/19、502/21室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種半導(dǎo)體器件的制造方法,該制造方法包括:在襯底上形成柵極結(jié)構(gòu);在襯底中形成摻雜區(qū),摻雜區(qū)至少位于柵極結(jié)構(gòu)的一側(cè);形成覆蓋襯底與柵極結(jié)構(gòu)的絕緣結(jié)構(gòu);去除絕緣結(jié)構(gòu)的第一部分,以便于形成第一凹部,第一凹部自絕緣結(jié)構(gòu)的表面向襯底延伸至第一預(yù)設(shè)深度且與摻雜區(qū)的位置對應(yīng);以及經(jīng)第一凹部去除絕緣結(jié)構(gòu)的第二部分,以便于形成貫穿絕緣結(jié)構(gòu)的第一接觸孔,至少部分摻雜區(qū)被第一接觸孔暴露。通過分步去除絕緣結(jié)構(gòu)的第一部分與第二部分形成了穿過絕緣結(jié)構(gòu)的第一接觸孔,降低了形成第一接觸孔的工藝難度,使得第一接觸孔不僅可以到達(dá)襯底,并且保證了第一接觸孔的形貌正常,從而提高了器件的可靠性。 |
