電子元器件測(cè)試方法、測(cè)試設(shè)備和智能鎖

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111332493.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114137334A 公開（公告）日 2022-03-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN114137334A 申請(qǐng)公布日 2022-03-04
分類號(hào) G01R31/00（2006.01）I;G07C9/00（2020.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 陳怡威 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣東名門鎖業(yè)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京鴻元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李平;楊樺
地址 528414廣東省中山市東升鎮(zhèn)東成北路6號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及電子元器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種電子元器件測(cè)試方法，通過采集待測(cè)元器件在執(zhí)行預(yù)設(shè)指令時(shí)的電流數(shù)據(jù)后，與標(biāo)定元器件在執(zhí)行該預(yù)設(shè)指令時(shí)的電流數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，分析二者的差異來判斷待測(cè)元器件的工作狀態(tài)。既可獲取該待測(cè)元器件可否正常工作，還可獲取該待測(cè)元器件可否有效工作。