一種基于紅外熱成像的缺陷檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010189574.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113406145A 公開（公告）日 2021-09-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN113406145A 申請(qǐng)公布日 2021-09-17
分類號(hào) G01N25/72（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 馬宏 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 覺芯電子（無(wú)錫）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 郝傳鑫;賈允
地址 214000江蘇省無(wú)錫市濱湖區(qū)菱湖大道200號(hào)中國(guó)傳感網(wǎng)國(guó)際創(chuàng)新園A802
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于紅外熱成像的缺陷檢測(cè)方法、裝置及系統(tǒng)，所述方法包括：向待測(cè)件發(fā)射第一方向激光束；獲取所述待測(cè)件表面的熱成像信息，生成第一數(shù)據(jù)；向所述待測(cè)件發(fā)射第二方向激光束，所述第二方向與所述第一方向相交；獲取得到待測(cè)件表面的熱成像信息，生成第二數(shù)據(jù)；根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)，獲取所述待測(cè)件表面的缺陷信息，激光先后從兩個(gè)或者多個(gè)不同角度對(duì)待測(cè)件進(jìn)行激勵(lì)，克服了從單一角度照射時(shí)某些方向的裂紋缺陷對(duì)比度低的缺點(diǎn)，提高了信噪比，使漏檢率顯著降低，滿足工業(yè)生產(chǎn)線上大批量零件的檢測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)高精度和高效率檢測(cè)，配合相應(yīng)的自動(dòng)化分揀裝置，可方便地實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線上的自動(dòng)化檢測(cè)和篩選。