一種電子產(chǎn)品屏蔽蓋虛焊檢測裝置和方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010199750.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113495098A | 公開(公告)日 | 2021-10-12 |
申請公布號 | CN113495098A | 申請公布日 | 2021-10-12 |
分類號 | G01N29/04(2006.01)I;G01N29/22(2006.01)I;G01N29/34(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 馬宏 | 申請(專利權(quán))人 | 覺芯電子(無錫)有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 郝傳鑫;賈允 |
地址 | 214000江蘇省無錫市濱湖區(qū)菱湖大道200號中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園A802 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品屏蔽蓋虛焊檢測裝置和方法,包括:圖像坐標(biāo)采集模塊、敲擊發(fā)聲及音頻采集模塊和數(shù)據(jù)處理模塊,所述敲擊發(fā)聲及音頻采集模塊包括:敲擊發(fā)聲單元和音頻采集單元,所述圖像坐標(biāo)采集模塊、敲擊發(fā)聲單元和音頻采集單元均與所述數(shù)據(jù)處理模塊連接。本發(fā)明不僅可以大幅度提高電子產(chǎn)品屏蔽蓋的檢出速率,降低電子產(chǎn)品屏蔽蓋的漏檢率,保證了電子產(chǎn)品屏蔽蓋的合格率,并且本發(fā)明還具有適用性強,安全系數(shù)高等特點。 |
