一種電子產(chǎn)品屏蔽蓋虛焊檢測裝置和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010199750.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113495098A 公開（公告）日 2021-10-12
申請公布號 CN113495098A 申請公布日 2021-10-12
分類號 G01N29/04（2006.01）I;G01N29/22（2006.01）I;G01N29/34（2006.01）I;G01N29/44（2006.01）I;G01B11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 馬宏 申請（專利權(quán)）人 覺芯電子（無錫）有限公司
代理機構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 郝傳鑫;賈允
地址 214000江蘇省無錫市濱湖區(qū)菱湖大道200號中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園A802
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品屏蔽蓋虛焊檢測裝置和方法，包括：圖像坐標(biāo)采集模塊、敲擊發(fā)聲及音頻采集模塊和數(shù)據(jù)處理模塊，所述敲擊發(fā)聲及音頻采集模塊包括：敲擊發(fā)聲單元和音頻采集單元，所述圖像坐標(biāo)采集模塊、敲擊發(fā)聲單元和音頻采集單元均與所述數(shù)據(jù)處理模塊連接。本發(fā)明不僅可以大幅度提高電子產(chǎn)品屏蔽蓋的檢出速率，降低電子產(chǎn)品屏蔽蓋的漏檢率，保證了電子產(chǎn)品屏蔽蓋的合格率，并且本發(fā)明還具有適用性強，安全系數(shù)高等特點。