PCB電路板平整度檢測(cè)用光線照射檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810529225.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN108759728B 公開(kāi)（公告）日 2020-04-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN108759728B 申請(qǐng)公布日 2020-04-28
分類號(hào) G01B11/30 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 丁安君 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 無(wú)錫遠(yuǎn)及科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京成實(shí)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陳永虔
地址 213000 江蘇省常州市常州電子科技產(chǎn)業(yè)園新科路19號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種PCB電路板平整度檢測(cè)用光線照射檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法，包括檢測(cè)室、檢測(cè)裝置和控制臺(tái)，所述檢測(cè)裝置設(shè)置在檢測(cè)室內(nèi)部，所述控制臺(tái)設(shè)置在檢測(cè)室外部，所述檢測(cè)室配套設(shè)置可開(kāi)合的門，所述門上設(shè)置有可手動(dòng)拉開(kāi)并自動(dòng)回彈的彈性拉窗，所述門與檢測(cè)室、彈性拉窗與門兩處活動(dòng)連接處均閉合狀態(tài)下，可使整個(gè)檢測(cè)室內(nèi)部為黑暗無(wú)光狀態(tài)。本發(fā)明提供的PCB電路板平整度檢測(cè)用光線照射檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法，能夠快速且直觀的檢測(cè)出PCB電路板是否平整。