安措考核試卷的生成方法、裝置、終端設備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111335114.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114202157A 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN114202157A 申請公布日 2022-03-18
分類號 G06Q10/06（2012.01）I;G06Q50/06（2012.01）I;G06Q50/20（2012.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 胡曉麗;張廣嘉;孫呂祎;俞偉國;任罡;潘軍軍;吳雙;朱向軍;郭宇杰;陸兆沿;李進;魏真峰;吳旻哲;宋曉露;孟維;謝世春 申請（專利權）人 長園深瑞繼保自動化有限公司
代理機構 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 梁姍
地址 215000江蘇省蘇州市勞動路599號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于考核評估技術領域，提供了一種安措考核試卷的生成方法、裝置、終端設備及存儲介質(zhì)。所述生成方法包括：獲取試題集，所述試題集包括具有第一標簽的N個安措試題，其中，所述第一標簽用于指示對應安措試題所屬的考點，所述考點是指考察的知識點，N為大于1的整數(shù)；根據(jù)當前安措考核中的目標考點和所述第一標簽，從所述試題集中提取候選試題，所述候選試題是指所述試題集中第一標簽與所述當前安措考核中目標考點匹配的安措試題；基于所述候選試題，生成所述當前安措考核的考核試卷。采用上述安措考核試卷的生成方法，可以提高安措考核的試卷生成效率。