一種半導(dǎo)體器件高低溫測試系統(tǒng)和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111451415.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114152856A 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號 CN114152856A 申請公布日 2022-03-08
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 承龍;謝鴻程;邱冬冬 申請（專利權(quán)）人 長電科技（滁州）有限公司
代理機構(gòu) 安徽知問律師事務(wù)所 代理人 侯曄
地址 239000安徽省滁州市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)城北工業(yè)園蘇州路以西、世紀(jì)大道以北
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體器件高低溫測試系統(tǒng)和方法，屬于半導(dǎo)體器件測試技術(shù)領(lǐng)域。針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的半導(dǎo)體器件在高低溫檢測時操作復(fù)雜，檢測效率低，檢測成本高的問題，本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體器件高低溫測試系統(tǒng)和方法，待檢測半導(dǎo)體器件通過傳送軌道進入檢測結(jié)構(gòu)中進行檢測，所述檢測包括室溫下檢測、第一檢測溫度下檢測、第二檢測溫度下檢測和第三檢測溫度下檢測；本發(fā)明實現(xiàn)將不同的溫度檢測裝置集成，有效的模擬真實的環(huán)境變化，增加產(chǎn)品測試的可靠性，自動化檢測提高檢測效率；測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，易于維修保養(yǎng)。