一種半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試系統(tǒng)和方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111451415.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114152856A 公開（公告）日 2022-03-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN114152856A 申請(qǐng)公布日 2022-03-08
分類號(hào) G01R31/26（2014.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 承龍;謝鴻程;邱冬冬 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 長(zhǎng)電科技（滁州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 安徽知問律師事務(wù)所 代理人 侯曄
地址 239000安徽省滁州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)城北工業(yè)園蘇州路以西、世紀(jì)大道以北
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試系統(tǒng)和方法，屬于半導(dǎo)體器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的半導(dǎo)體器件在高低溫檢測(cè)時(shí)操作復(fù)雜，檢測(cè)效率低，檢測(cè)成本高的問題，本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試系統(tǒng)和方法，待檢測(cè)半導(dǎo)體器件通過傳送軌道進(jìn)入檢測(cè)結(jié)構(gòu)中進(jìn)行檢測(cè)，所述檢測(cè)包括室溫下檢測(cè)、第一檢測(cè)溫度下檢測(cè)、第二檢測(cè)溫度下檢測(cè)和第三檢測(cè)溫度下檢測(cè)；本發(fā)明實(shí)現(xiàn)將不同的溫度檢測(cè)裝置集成，有效的模擬真實(shí)的環(huán)境變化，增加產(chǎn)品測(cè)試的可靠性，自動(dòng)化檢測(cè)提高檢測(cè)效率；測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，易于維修保養(yǎng)。