一種輻照寬度與均勻性測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201520821674.8 申請日 -
公開（公告）號 CN205049747U 公開（公告）日 2016-02-24
申請公布號 CN205049747U 申請公布日 2016-02-24
分類號 G01T1/29(2006.01)I;G01T1/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王忠明;裴元吉;趙躍春;姚江濤;劉波 申請（專利權(quán)）人 安徽戈瑞電子科技股份有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 230001 安徽省合肥市高新區(qū)動漫和服務(wù)外包產(chǎn)業(yè)發(fā)展基地B1座南樓606室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種輻照寬度與均勻性測量裝置，包括底板、凹槽、標(biāo)尺、劑量片，所述凹槽位于底板表面，凹槽均勻排列，所述標(biāo)尺位于底板邊沿，所述劑量片放置在凹槽內(nèi)，本實用新型以簡單的結(jié)構(gòu)，有著手提把手，可以隨意拖動，均勻排布的一模一樣的劑量片可以方便快捷測量出輻照劑量均勻性，旁邊的標(biāo)尺可以很快的測量出輻照的寬度范圍，簡單，實用。