一種芯片測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121680426.8 申請日 -
公開（公告）號 CN215894842U 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN215894842U 申請公布日 2022-02-22
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黃太洲;馬敏超;陳晨 申請（專利權(quán)）人 嘉興市云達(dá)智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 嘉興啟帆專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 熊亮亮
地址 314000浙江省嘉興市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)天樞路68號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種芯片測試設(shè)備，包括機(jī)架，所述機(jī)架上固設(shè)有第一循環(huán)換料裝置、第二循環(huán)換料裝置、第一機(jī)械臂、第二機(jī)械臂、第一測試平臺(tái)、第二測試平臺(tái)，所述第一循環(huán)換料裝置與第二循環(huán)換料裝置呈對角設(shè)置，所述第一測試平臺(tái)與第二測試平臺(tái)呈對角設(shè)置，所述第一機(jī)械臂與第二機(jī)械臂對稱設(shè)置于機(jī)架的中部，架構(gòu)布局設(shè)計(jì)合理，配合雙轉(zhuǎn)盤測試平臺(tái)，每個(gè)平臺(tái)設(shè)有多個(gè)測試工位，隨平臺(tái)轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)多個(gè)測試工位可以進(jìn)行多步驟或工序的測試，各機(jī)構(gòu)協(xié)調(diào)配合完成動(dòng)作，布局結(jié)構(gòu)緊湊減小了設(shè)備占用體積，充分利用機(jī)架上空間的同時(shí)縮短物料轉(zhuǎn)運(yùn)時(shí)間，提高了測試效率。