一種VDMOS芯片及其電路應(yīng)用結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202122088554.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215896409U | 公開(公告)日 | 2022-02-22 |
申請公布號 | CN215896409U | 申請公布日 | 2022-02-22 |
分類號 | H01L29/78(2006.01)I;H01L23/552(2006.01)I;H03K17/687(2006.01)I;H03K7/08(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊正友;任煒強;謝文華 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳真茂佳半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京維正專利代理有限公司 | 代理人 | 朱鵬程 |
地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道沙河西路健興科技大廈C座310 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請涉及一種VDMOS芯片及其電路應(yīng)用結(jié)構(gòu),包括半導(dǎo)體基座,半導(dǎo)體基座分為源區(qū)、漂移區(qū)和基體區(qū),源區(qū)上貫穿設(shè)置有溝槽,且溝槽貫穿漂移區(qū)并延伸到基體區(qū)中,源區(qū)和基體區(qū)極性相同,源區(qū)和漂移區(qū)極性相反;基體區(qū)遠(yuǎn)離漂移區(qū)的一側(cè)設(shè)置有漏極金屬層,源區(qū)遠(yuǎn)離漂移區(qū)的一側(cè)設(shè)置有源極金屬層;溝槽內(nèi)設(shè)置有柵極金屬層,柵極金屬層與溝槽內(nèi)壁之間設(shè)置有絕緣層;柵極金屬層上設(shè)置有屏蔽層,屏蔽層的兩端分別延伸至溝槽兩側(cè)的源區(qū)上;柵極金屬層上設(shè)置有柵極引出線,柵極引出線穿設(shè)在屏蔽層上且端部位于屏蔽層外。本申請具有消除VDMOS芯片內(nèi)部高速開關(guān)引起的高頻諧振從溝槽中輻射至外界,減小對外圍電路的電磁干擾的效果。 |
