一種SiCMOSFET器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202122375899.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215933612U | 公開(公告)日 | 2022-03-01 |
申請公布號 | CN215933612U | 申請公布日 | 2022-03-01 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/16(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 任煒強;春山正光;謝文華;楊正友 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳真茂佳半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京維正專利代理有限公司 | 代理人 | 朱鵬程 |
地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道沙河西路健興科技大廈C座310 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請涉及碳化硅功率器領(lǐng)域,公開了一種SiC MOSFET器件,SiC MOSFET器件包括襯底、外延底層、基層、源極層、柵極、柵介質(zhì)層、溝道段、溝道長度減縮段、浮空段、隔離層、源極和漏極。本申請的柵介質(zhì)層缺陷密度低,擊穿電壓高,可靠性高。 |
