芯片工藝監(jiān)測測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120648641.3 申請日 -
公開（公告）號 CN214539904U 公開（公告）日 2021-10-29
申請公布號 CN214539904U 申請公布日 2021-10-29
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 呂學(xué)信 申請（專利權(quán)）人 合肥瀚信科技有限公司
代理機構(gòu) 安徽申策知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 程艷梅
地址 230088安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園A3樓906室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，具體為芯片工藝監(jiān)測測試裝置，包括測試裝置整體、放置箱、固定架和固定板，測試裝置整體的頂端固定連接有放置箱，放置箱的左側(cè)固定連接有固定架，放置箱的中間固定連接有固定板，放置箱的頂端固定連接有導(dǎo)向桿，放置箱的底端固定連接有支撐腿，固定板的正面活動連接有轉(zhuǎn)動軸，轉(zhuǎn)動軸是用來轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)板的，在要進行拆卸的時，先將固定板上的旋轉(zhuǎn)板帶動轉(zhuǎn)動軸進行轉(zhuǎn)動，使其不接觸到測試平臺，然后在握住測試平臺上的拉手，將測試平臺通過滑動槽拉出來，這時測試平臺被拉出來就可以對測試槽內(nèi)或者測試平臺的內(nèi)部進行檢查維修了，拆卸時簡單快捷，使得工作人員更方便的進行維修，避免了裝置拆卸麻煩的問題。