一種晶硅太陽能電池表面鈍化工藝

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011450716.3 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112563372A 公開(公告)日 2021-03-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN112563372A 申請(qǐng)公布日 2021-03-26
分類號(hào) H01L31/18(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 任現(xiàn)坤;楊曉君;仲偉佳;葛永見;曹振;郭瑞靜;陳沖 申請(qǐng)(專利權(quán))人 山東力諾太陽能電力股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 代理人 牟京霞
地址 250103山東省濟(jì)南市歷城區(qū)經(jīng)十東路30766號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種晶硅太陽能電池表面鈍化工藝,過程為:設(shè)定特氣柜中的氣體比例,控制SiH4與NH3體積比為1.5?2:1,并控制進(jìn)入工作腔內(nèi)的氣體壓力在20?25Pa之間;設(shè)定工作腔中,襯底托臺(tái)的加熱溫度為220℃,調(diào)整射頻頻率在200?230KHz之間;將潔凈的基片送至工作腔,置于襯底托臺(tái)上加熱;運(yùn)行工藝,完成對(duì)電池表面鈍化。該鈍化工藝中,通過控制氣體比例、氣體壓力,使工作腔內(nèi)維持一定的離子濃度;通過控制襯底托臺(tái)的加熱溫度,可避免基片產(chǎn)生裂痕同時(shí)利于鈍化膜在基片上生長(zhǎng);通過控制射頻頻率,使工作腔內(nèi)的離子能夠均勻的生長(zhǎng)在基片表面,提高基片表面鈍化層的均勻性,進(jìn)而達(dá)到抑制基片表面缺陷的優(yōu)點(diǎn)。??