一種光刻設(shè)備及光刻方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010269164.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113495432A | 公開(公告)日 | 2021-10-12 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113495432A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-12 |
分類號(hào) | G03F7/20(2006.01)I | 分類 | 攝影術(shù);電影術(shù);利用了光波以外其他波的類似技術(shù);電記錄術(shù);全息攝影術(shù)〔4〕; |
發(fā)明人 | 呂帥;徐順達(dá);王冠楠;朱鵬飛;浦東林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 蘇州蘇大維格科技集團(tuán)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海波拓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 周志中 |
地址 | 215123江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)新昌路68號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種光刻設(shè)備,包括激光輸出裝置、光路選擇裝置、檢測(cè)模塊和光刻模塊,所述激光輸出裝置發(fā)射激光至所述光路選擇裝置,所述光路選擇裝置選擇將激光反射至所述光刻模塊或所述檢測(cè)模塊。本發(fā)明還公開了一種光刻方法,利用上述光刻設(shè)備進(jìn)行光刻。通過所述光路選擇裝置選擇將激光反射至所述光刻模塊或所述檢測(cè)模塊,以使光刻設(shè)備能實(shí)時(shí)檢測(cè)曝光能量,保證了光刻效果,提高了光刻效率,提升了產(chǎn)品的良品率。 |
