固態(tài)硬盤的性能測(cè)試方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210256995.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103578568B 公開（公告）日 2016-08-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN103578568B 申請(qǐng)公布日 2016-08-17
分類號(hào) G11C29/56(2006.01)I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 張長(zhǎng)安;王旭光;劉虹越;王術(shù) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州傲科創(chuàng)信息技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州市中南偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李廣
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)若水路388號(hào)E750室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種固態(tài)硬盤的性能測(cè)試方法及裝置，其中方法用于實(shí)現(xiàn)多個(gè)固態(tài)硬盤的自動(dòng)測(cè)試處理。包括如下步驟：步驟S100，獲取與SATA接口連接的多個(gè)固態(tài)硬盤的對(duì)象信息；步驟S200，接收用戶配置的當(dāng)前固態(tài)硬盤的配置參數(shù)信息的指令并采用多線程方法同時(shí)對(duì)多個(gè)固態(tài)硬盤順序?qū)懭?、順序讀取、隨機(jī)寫入、隨機(jī)讀取這四個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試；步驟S300，得到相應(yīng)連續(xù)時(shí)間點(diǎn)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)；步驟S400，對(duì)所述監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算和分析處理；步驟S500，將所述監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)來(lái)得出測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明提供的固態(tài)硬盤的性能測(cè)試方法及裝置可以提高固態(tài)硬盤的測(cè)試效率，提供給用戶最詳細(xì)的異常時(shí)間點(diǎn)測(cè)試報(bào)告并保障了固態(tài)硬盤性能評(píng)測(cè)信息的準(zhǔn)確度。