一種元器件空間輻射效應(yīng)探測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711287554.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN108169785A 公開(kāi)（公告）日 2018-06-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN108169785A 申請(qǐng)公布日 2018-06-15
分類號(hào) G01T1/24 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李璟璟;邵思霈;任文冠;王博;胡喜慶;郝曉云;潘睿元;肖婷;劉金勝;劉泳;王月;張玉兔;王世金 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京天工科儀空間技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京理工大學(xué)專利中心 代理人 仇蕾安;付雷杰
地址 264003 山東省煙臺(tái)市高新區(qū)航天路513號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種元器件空間輻射效應(yīng)探測(cè)裝置，增加了輻射環(huán)境探頭，在進(jìn)行電子元器件在軌實(shí)驗(yàn)的同時(shí)，實(shí)時(shí)獲取當(dāng)前位置處的空間輻射環(huán)境信息。本發(fā)明結(jié)合實(shí)時(shí)測(cè)量的空間輻射環(huán)境對(duì)被測(cè)元器件進(jìn)行考核，提高了電子元器件空間環(huán)境適應(yīng)性評(píng)估的精準(zhǔn)度。