芯片開短路測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020748108.X 申請日 -
公開（公告）號 CN212275891U 公開（公告）日 2021-01-01
申請公布號 CN212275891U 申請公布日 2021-01-01
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周武林 申請（專利權(quán)）人 江西聯(lián)智集成電路有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 江西聯(lián)智集成電路有限公司
地址 330096江西省南昌市南昌高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)創(chuàng)新一路59號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種芯片開短路測試裝置。所述裝置包括：開關(guān)切換模塊(1)，連接至芯片(6)的N個待測引腳，N為大于1的整數(shù)；控制模塊(2)，連接至開關(guān)切換模塊(1)，控制開關(guān)切換模塊(1)依次接通N個待測引腳；恒流源模塊(3)，連接至開關(guān)切換模塊(1)，為開關(guān)切換模塊(1)接通的待測引腳提供測試電流。利用開關(guān)切換模塊依次接通芯片的待測引腳以進(jìn)行開短路測試，提高了測試靈活性，并且能夠自動實現(xiàn)所有引腳的開短路測試，降低人工操作成本。??